Optische Charakterisierung von IR-Emittern

CAS 140D IR – Präzise Wellenlängenmessung im Infrarot

Das neue Spektralradiometer CAS 140D IR von Instrument Systems ist optimiert für spektrale Messungen im SWIR-Bereich (short-wave infrared). Es bietet die bewährte hohe Messgenauigkeit und Zuverlässigkeit der weltweit als Referenz anerkannten CAS140D Serie für Wellenlängen von 780 – 1700 nm. Gegenüber seinem Vorgängermodell aus der CAS 140CT Serie besitzt das CAS 140D IR eine deutlich verbesserte Performance: Dank des neu designten optischen Aufbaus liegt der Durchsatz um bis zu 70 % höher. Der Streulichtanteil ist nochmals erheblich verringert. Die neue Elektronik-Plattform ermöglicht eine schnellere Verarbeitung der Messdaten mit einer minimalen Integrationszeit von 1 ms und einer Scanzeit von 9 ms. Die Vorteile für den Anwender liegen in einer höheren Produktivität durch kürzere Messzeiten bei gleichzeitig höherer Genauigkeit und Wiederholbarkeit.

VTC 4000 – Nahfeld-Analyse von VCSELn

Die Nahfeld-Kamera VTC 4000 von Instrument Systems ist speziell für die ultraschnelle und präzise 2D-Analyse von VCSEL-Arrays ausgelegt. Sie ermöglicht die polarisations-korrigierte Messung der Leistung eines Emitters oder Arrays. Durch ein einzigartiges Kalibrierkonzept erfolgt die 2D-Nahfeld-Charakterisierung in einer noch nie dagewesenen Messgenauigkeit. Dieses Konzept basiert auf einer Flat-Field- sowie einer Polarisationskorrektur und korrigiert die Polarisationsabhängigkeit des optischen Systems. Die so kalibrierte VTC 4000 ermöglicht die Absolutmessung der Leistung und die Messung der Polarisationseigenschaften jedes einzelnen Emitters innerhalb des Kamera-Sichtfeldes im One-Shot-Verfahren. Wie alle Messgeräte von Instrument Systems ist die VTC 4000 Kamera auf nationale Standards (PTB) rückführbar kalibriert und liefert Messwerte mit absoluter Genauigkeit. Hersteller können hierdurch die volle Leistungseffizienz von VCSEL-Emittern ausschöpfen und gleichzeitig einen sicheren Betrieb gewährleisten.

VTC 2400 – Fernfeld-Analyse von Infrarotquellen

Die VTC 2400 von Instrument Systems ist eine hochauflösende Infrarotkamera, die passgenau für die 2D-Fernfeld-Analyse der Strahlstärkeverteilung von VCSEL und IR-Emittern entwickelt wurde. Das kosteneffiziente Messsystem besteht aus einem lichtdurchlässigen, diffus lambertsch streuenden Schirm und einer auf Messungen im nahen Infrarot spezialisierten Monochromkamera. Dank lichtdichtem Kameragehäuse ist das System sowohl für Labor- als auch Produktionsanwendungen geeignet. Im Messaufbau steht der Schirm zwischen der Strahlungsquelle (DUT) und der Infrarotkamera, so dass auf dem Schirm die typische Abstrahlcharakteristik des DUTs sichtbar wird. Die Infrarotkamera VTC 2400 erfasst diese 2-dimensionale Abbildung in einer einzigen Messung und rechnet über eine Kalibrierung die Bestrahlungsstärke [W/m²] in die Strahlstärkeverteilung [W/sr] des DUTs um.

Vortrag auf der SPIE Digital Optical Technologies (ICM)

Zeitgleich zur LASER WoP findet im benachbarten ICM der World of Photonics Congress statt. Instrument Systems ist dort mit einem Vortrag von Dr. Amir Sharghi vertreten: “Two-dimensional LIV and beam quality characterization of individual emitters in a VCSEL array”. Termin: Mittwoch, den 28. Juni 2023 um 08:40 Uhr in Raum 21.

Besuchen Sie uns in München auf der LASER World of Photonics:
27. – 30. Juni 2023 an Stand A3.209