RoodMicrotec N.V., ein führendes unabhängiges Unternehmen für die Lieferung von Halbleitern und Qualitätsdienstleistungen, und AEM, ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich Halbleitertest und -handling, verkünden heute ihre Zusammenarbeit, die es dem Afore Wafer Level Test Solutions Engineering Team von AEM ermöglicht, den AIOLOS Wafer Level Test Handler in der RoodMicrotec-Niederlassung […]
RoodMicrotec nutzt die UFO Probe® Card-Technologie von Jenoptik für seine PIC-Wafer-Level-Tests
Final-Tests sind ein wichtiger Bestandteil der Supply Chain von elektronischen Bauteilen. Für integrierte Schaltkreise (ICs) sind diese fest etabliert – für integrierte photonische Schaltkreise (PICs) ist das Test-Eco-System noch im Aufbau. Einen essenziellen Baustein für neuartige PIC-Wafer-Level-Tests liefert Jenoptik mit der opto-elektronischen UFO Probe® Card. RoodMicrotec profitiert von einer schnellen […]